濕式清洗

我們針對(先進)193i 光學與 EUV 微影光罩所推出的清洗設備套件結合物理與化學清洗技術,以便除去粒子及有機與無機汙染物(光罩正反面):光罩汙染物會在元件製造期間影響微影設備的正確成像過程。若要推動產業邁向 22nm hp 以下製程世代,則需要有非常高效率的清潔技術。

為了清除粒子,採用搭載各類型清洗液的高精準的超音波搭配奈米噴霧製程,達到絕佳的粒子去除率。瞭解更多

創新的環保使用端紫外光(In-Situ UV)技術提供廣泛的無化學製程功能,例如表面處理;去光阻(resist strip)、清除有機汙染物及最終清洗,可避免破壞圖案或改變光罩的光學特性以保存圖案完整性。

MaskTrack® Pro 結合表面準備、維護與淨化技術後是 SUSS MicroTec 最新一代的清洗系統,可提供全方位清洗方式處理 EUVL 與 193i 所帶來的挑戰的。