포토마스크 정확도를 위한 설계
포토마스크 베이킹 및 현상 시스템
SUSS의 베이크 & 현상 시스템은 고정밀 온도 제어와 유연한 멀티 모드 현상 공정을 결합하여 초저 LER과 엄격한 CD 균일성을 보장합니다. 다양한 레지스트와 호환되므로 R&D부터 대량 생산에 이르기까지 모든 포토마스크 노광 전략에 대해 안정적이고 반복 가능한 결과를 보장합니다.
포토마스크 정확도를 위한 설계
SUSS의 베이크 & 현상 시스템은 고정밀 온도 제어와 유연한 멀티 모드 현상 공정을 결합하여 초저 LER과 엄격한 CD 균일성을 보장합니다. 다양한 레지스트와 호환되므로 R&D부터 대량 생산에 이르기까지 모든 포토마스크 노광 전략에 대해 안정적이고 반복 가능한 결과를 보장합니다.

정밀한 포토마스크 노광
SUSS의 베이크 & 디벨롭 시스템
마스크 표면 전체의 열 안정성을 위한 정밀하고 균일한 온도 관리로고급 노드 및 고해상도 포토마스크 쓰기를 위한 CD 균일성과 안정적인 성능을 보장합니다.
다양한 공정 옵션과 다양한 레지스트와의 높은 호환성: 당사의 시스템은 높은 유연성과 정밀 제어를 결합하여 표준 재료부터 고급 재료까지 일관되고 신뢰할 수 있는 결과를 제공합니다.
SUSS' 시스템은 긴밀하게 통합된 베이킹 및 현상액 모듈을 통해 변동성을 줄이고 라인 에지 거칠기를 초저로 유지하며 고해상도 마스크를 위한 턴키 성능을 제공합니다.

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