W2W-Hybrid-Bonden

XBS300 W2W Hybrid-Bonding-Plattform

Die XBS300 W2W ist für das automatisierte Hybrid- und Fusionsbonden von ausgerichteten 200mm- und 300mm-Wafern konzipiert. Die Plattform unterstützt sowohl das Wafer-to-Wafer-Bonden (W2W) als auch das kollektive Die-to-Wafer-Bonden (D2W) und bietet maximale Flexibilität für fortschrittliche Integrationsprozesse.

Alle Optionen in einem System

Dank ihres modularen Aufbaus ist die XBS300 W2W-Hybrid-Bonding-Plattform für 3D-Stapelspeicher oder 3D-SOCs sowohl für Forschung und Entwicklung als auch für die Großserienproduktion bestens geeignet.

Individuelle Konfiguration

Die XBS300 W2W-Plattform ist standardmäßig mit einem Hochleistungs-Messmodul und einer Oberflächenaktivierung ausgestattet, die eine effiziente Single-Wafer-Bearbeitung ermöglicht. Das modulare Design ermöglicht die einfache Integration zusätzlicher Funktionen und ist damit eine ideale Lösung für die Großserienproduktion.

Proprietäre Technologie für höchste Präzision

Die patentierte XBA-Technologie mit Inter Substrate Alignment (ISA) bietet eine hochpräzise Ausrichtung für anspruchsvollste Pitch-Anwendungen mit < 100 nm Overlay. Die eingebaute optische Festreferenz, die globale Kalibrierung und die Überlagerungsprüfung gewährleisten eine optimale Wiederholbarkeit und garantieren eine gleichbleibende Produktionsqualität.

Integrierte In-situ-Metrologie

Ein entscheidender Vorteil der integrierten In-situ-Messtechnik ist die Rückmeldung der Offset-Parameter direkt an den Bond Aligner, was eine gleichbleibende Overlay-Leistung bei jedem Durchlauf ermöglicht. Das System unterstützt flexible Konfigurationen, einschließlich der IR-Lückenprüfung und der hochpräzisen IR-Overlay-Messung. Für maximale Skalierbarkeit können bis zu sechs Messmodule in einen einzigen Cluster integriert werden.

Eine Plattform, die sich an Ihren Bedarf anpasst

Hauptmerkmale der XBS300 W2W Hybrid-Bonding-Plattform

Der modulare Aufbau des XBS300 W2W ermöglicht eine flexible Konfiguration. Hardware-Upgrades - wie z. B. eine Temperaturkontrolleinheit, eine In-situ-Durchbiegungsmessung oder eine x/y/θ-Tischsteuerung mit geschlossenem Regelkreis - können einfach installiert werden und ermöglichen eine Ausrichtungsleistung von bis zu 100 nm.

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Hervorragende Ausrichtungsleistung

Dank seiner Temperaturkontrolleinheit (TCU) liefert das XBS300 W2W eine hervorragende Ausrichtungsleistung, unabhängig von Reinraumbedingungen. Das System verfügt über eine außergewöhnliche thermische Stabilität von ±25 mK über 12 Stunden und gewährleistet somit gleichbleibend präzise Klebeergebnisse in jeder Produktionsumgebung.

Präzise Ausrichtungskontrolle in drei Dimensionen

Die geschlossene Echtzeit-Steuerung der X-, Y- und θ-Bewegungen des Tisches korrigiert automatisch Ausrichtungs- und Rotationsfehler und gewährleistet so eine präzise Wafer-Positionierung und eine gleichbleibend hohe Bonding-Ausrichtung.

SUSS Einzigartige In-situ-Wafer-Durchbiegungsüberwachung

Die firmeneigene In-situ-Durchbiegungsüberwachung der XBS300 W2W-Plattform kompensiert Schwankungen der eingehenden Wafer, des Auslaufs und der Substrateigenschaften und sorgt so für eine deutlich höhere Prozesspräzision und gleichbleibend zuverlässige Klebeergebnisse.

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